С помощью новейших микроскопов исследователи смогли изучить атомную структуру материала, не повреждая ее.
Ученые из Национальной лаборатории Министерства энергетики им. Лоуренса Беркли опубликовали в журнале Nature Communications исследования, показывающие, как метод 4D-STEM позволяет использовать электронную микроскопию для изображения мягких материалов, не разрушая их, пишет FaceNews.ua.
И фотографии, полученные в результате их исследований, просто великолепны.
Исследование Nature Communications было сфокусировано на использовании 4D-STEM для изображения объемного металлического стекла, которое имеет непредсказуемую молекулярную структуру.
Это позволило исследователям выявить слабые точки материала в атомном масштабе. В конечном итоге даже такие крошечные несовершенства могут привести к его разрушению под воздействием напряжения.